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王子計測超高位相差測定裝置
- 產品型號:PAM-UHR100
- 更新時間:2024-03-20
- 產品介紹:王子計測超高位相差測定裝置PAM-UHR100特點①1nm寬測量范圍②高重復精度±1nm③良好的可操作性④軟件
- 在線留言 86-21-54933058/54933060/54933358/54182486/28097339
產品介紹
王子計測超高位相差測定裝置
PAM-UHR100
特點
① 1nm寬測量范圍
② 高重復精度±1nm
③ 良好的可操作性
④ 軟件
測定對象:
位相差薄膜,塑料,偏振片
光盤
液晶組件
磁帶用膠片
收縮薄膜
其他一般用途膠片
用途:
光學功能膠片的研究開發,質量管理
延伸膠片的定向評價(三維折射率,表面定向度)
包裝膜的熱收縮、撕脫性等的評價
液晶元件的雙絞線波長色散特性評估
光學器件的透射橢圓偏振光的評價
王子計測PAM-UHR100超高位相差測定裝置
技術參數
仕様 | 內容 |
測定対象 | 透明な延伸フィルム(PC,PET等) |
測定項目 | 位相差、配向角、複屈折 (位相差範囲 約800~20000nm) |
試料寸法 | □40mm 厚み3mm以下 |
システム構成 | 測定裝置本體、ノートパソコン(OS:Windows 7 / Vista / XP) |
溫濕度條件 | 10~35℃、20~80%RH(ただし結露しないこと) |
電源 | AC100V±10%、50/60Hz |